NF X21-010-2009 微光束分析.扫描电子显微术.词汇
作者:标准资料网 时间:2024-04-26 08:34:48 浏览:8035
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【英文标准名称】:Microbeamanalysis-Scanningelectronmicroscopy-Vocabulary.
【原文标准名称】:微光束分析.扫描电子显微术.词汇
【标准号】:NFX21-010-2009
【标准状态】:现行
【国别】:法国
【发布日期】:2009-06-01
【实施或试行日期】:2009-06-13
【发布单位】:法国标准化协会(FR-AFNOR)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:分析;砝码;分析方法;定义;耐久性;电子束;分析方法;微量分析;显微术;;术语;词汇
【英文主题词】:Analysis;Analysismethods;Definitions;Electronbeams;Methodsofanalysis;Microanalysis;Microscopy;Scanningelectronmicroscopes;Terminology;Vocabulary
【摘要】:
【中国标准分类号】:N32
【国际标准分类号】:01_040_37;37_020
【页数】:28P;A4
【正文语种】:其他
【原文标准名称】:微光束分析.扫描电子显微术.词汇
【标准号】:NFX21-010-2009
【标准状态】:现行
【国别】:法国
【发布日期】:2009-06-01
【实施或试行日期】:2009-06-13
【发布单位】:法国标准化协会(FR-AFNOR)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:分析;砝码;分析方法;定义;耐久性;电子束;分析方法;微量分析;显微术;;术语;词汇
【英文主题词】:Analysis;Analysismethods;Definitions;Electronbeams;Methodsofanalysis;Microanalysis;Microscopy;Scanningelectronmicroscopes;Terminology;Vocabulary
【摘要】:
【中国标准分类号】:N32
【国际标准分类号】:01_040_37;37_020
【页数】:28P;A4
【正文语种】:其他
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